Meissner使用多种不同仪器来协助分析和识别从过滤液体中去除的污染物。通过扫描电镜和X射线分析，以及过滤器表面的低真空成像，MTS可以帮助客户识别去除的有机和无机污染物。

扫描电镜（SEM）和X射线分析

扫描电镜技术使MTS能够生成亚微米领域的图像，最大放大倍数可达x300,000。对这些图像的分析，例如使用过的过滤膜表面，可以帮助我们确定从客户产品中去除的物质的性质。

能量色散X射线（EDX）光谱仪使MTS能够对观察表面的无机污染物进行元素分析和识别。该设备检测并测量从样本中发射的X射线的能量。

低真空成像

低真空成像使得分析有机材料（如细菌或细胞）成为可能，而不会破坏它们。（由于高水分含量和/或非导电表面，这些样本无法在高真空条件下观察。）