Analisi SEM e Raggi X

Analisi SEM e Raggi X

Identificazione dei contaminanti attraverso lโ€™analisi con microscopio elettronico a scansione (SEM), raggi X e tecnologia di imaging a basso vuoto


Meissner utilizza una varietร  di strumenti diversi per aiutare nellโ€™analisi e nellโ€™identificazione dei contaminanti rimossi dai fluidi filtrati. Attraverso lโ€™analisi SEM e con i raggi X, nonchรฉ lโ€™imaging a basso vuoto della superficie di un filtro, MTS puรฒ assistere i clienti nellโ€™identificare i contaminanti organici e inorganici rimossi.

Analisi SEM (Microscopio Elettronico a Scansione) e Raggi X

La tecnologia SEM consente a MTS di produrre immagini dal regno submicronico, utilizzando un ingrandimento massimo di x300.000. Lโ€™analisi di queste immagini, come la superficie di una membrana filtrante usata, puรฒ aiutarci a determinare la natura di ciรฒ che viene rimosso dal prodotto dei nostri clienti.

Uno spettrometro a raggi X a dispersione di energia (EDX) permette a MTS di eseguire lโ€™analisi elementare e lโ€™identificazione dei contaminanti inorganici sulla superficie osservata. Questo dispositivo rileva e misura lโ€™energia dei raggi X emessi da un campione.

Imaging a Basso Vuoto

Lโ€™imaging a basso vuoto rende possibile analizzare materiali organici, come batteri o cellule, senza distruggerli. (Questi campioni non possono essere osservati in condizioni di alto vuoto a causa dellโ€™alto contenuto dโ€™acqua e/o di superfici non conduttive.)