Analisi SEM e Raggi X
Analisi SEM e Raggi X
Identificazione dei contaminanti attraverso lโanalisi con microscopio elettronico a scansione (SEM), raggi X e tecnologia di imaging a basso vuoto
Meissner utilizza una varietร di strumenti diversi per aiutare nellโanalisi e nellโidentificazione dei contaminanti rimossi dai fluidi filtrati. Attraverso lโanalisi SEM e con i raggi X, nonchรฉ lโimaging a basso vuoto della superficie di un filtro, MTS puรฒ assistere i clienti nellโidentificare i contaminanti organici e inorganici rimossi.
Analisi SEM (Microscopio Elettronico a Scansione) e Raggi X
La tecnologia SEM consente a MTS di produrre immagini dal regno submicronico, utilizzando un ingrandimento massimo di x300.000. Lโanalisi di queste immagini, come la superficie di una membrana filtrante usata, puรฒ aiutarci a determinare la natura di ciรฒ che viene rimosso dal prodotto dei nostri clienti.
Uno spettrometro a raggi X a dispersione di energia (EDX) permette a MTS di eseguire lโanalisi elementare e lโidentificazione dei contaminanti inorganici sulla superficie osservata. Questo dispositivo rileva e misura lโenergia dei raggi X emessi da un campione.
Imaging a Basso Vuoto
Lโimaging a basso vuoto rende possibile analizzare materiali organici, come batteri o cellule, senza distruggerli. (Questi campioni non possono essere osservati in condizioni di alto vuoto a causa dellโalto contenuto dโacqua e/o di superfici non conduttive.)
