走査型電子顕微鏡（SEM）、X線、低真空イメージング技術を使用した分析による汚染物質の特定
Meissnerは、濾過された液体から除去された汚染物質の分析と識別を支援するために、さまざまな機器を採用しています。 MTSは、SEMおよびX線分析、フィルター表面の低真空イメージングを通じて、除去された有機および無機汚染物質の両方を特定する際にお客様を支援できます。
SEM（走査型電子顕微鏡）およびX線分析
SEM技術により、MTSはサブミクロン領域から最大倍率x300,000の画像を生成できます。使用済みフィルター膜の表面などの画像分析は、お客様製品から除去されているものの性質を判断するのに役立ちます。
エネルギー分散型X線（EDX）分光計により、MTSは元素分析と観察対象の表面の無機汚染物質の識別を実行できます。この装置は、サンプルから放出されるX線のエネルギーを検出して測定します。
低真空イメージング
低真空イメージングにより、バクテリアや細胞などの有機物を破壊することなく分析できます。 （これらの標本は、含水率が高いか、表面が非導電性であるため、高真空条件下では表示できません。）
