マイスナー社は、ろ過された液体から除去された汚染物質の分析と識別に役立つさまざまな異なる機器を使用しています。SEMおよびX線分析、そしてフィルター表面の低真空イメージングを通じて、MTSは顧客が除去された有機および無機汚染物質を特定するのを支援できます。

SEM（走査電子顕微鏡）とX線分析

SEM技術により、MTSはサブミクロンの領域から画像を生成でき、最大倍率はx300,000です。使用済みフィルターメンブレンの表面などのこれらの画像の分析は、顧客の製品から何が除去されているかの性質を判断するのに役立ちます。

エネルギー分散型X線（EDX）分光計により、MTSは観察されている表面上の無機汚染物質の元素分析と識別を行うことができます。この装置は、サンプルから放出されるX線のエネルギーを検出し、測定します。

低真空イメージング

低真空イメージングにより、バクテリアや細胞などの有機材料を破壊せずに分析することが可能になります。（これらの標本は、高水分含有量や非導電性表面のため、高真空条件下では観察できません。）