Rilevazione dei contaminanti tramite analisi con il microscopico elettronico (SEM), raggi X e tecnologie di imaging a basso vuoto
Meissner utilizza numerosi strumenti diversi per svolgere analisi e rilevare contaminanti rimossi dai fluidi filtrati. Grazie all’analisi tramite SEM e raggi X, nonché l’imaging a basso vuoto della superficie di un filtro, MTS può aiutare i clienti a identificare sia i contaminanti organici che inorganici rimossi.
Analisi tramite SEM (microscopio elettronico a scansione) e raggi X
La tecnologia SEM consente a MTS di produrre immagini inferiori al micron utilizzando un ingrandimento massimo pari a 300.000x. L’analisi di tali immagini, ad esempio della superficie della membrana di un filtro utilizzato, può aiutarci a stabilire la natura della particella rimossa dal prodotto del cliente.
Utilizzando uno spettrometro a raggi X a dispersione di energia, MTS può svolgere analisi elementari e identificare i contaminanti inorganici sulla superficie in esame. Questo dispositivo rileva e misura l’energia dei raggi X emessa dal campione.
Imaging a basso vuoto
Con l’imaging a basso vuoto è possibile analizzare materiale organico, come batteri o cellule, senza distruggerlo (questi campioni non sono visibili in condizioni di alto vuoto a causa dell’elevato contenuto di acqua e/o della non conducibilità delle superfici).
