Analisi SEM e Raggi X
Analisi SEM e Raggi X
Identificazione dei contaminanti attraverso l’analisi con microscopio elettronico a scansione (SEM), raggi X e tecnologia di imaging a basso vuoto
Meissner utilizza una varietà di strumenti diversi per aiutare nell’analisi e nell’identificazione dei contaminanti rimossi dai fluidi filtrati. Attraverso l’analisi SEM e con i raggi X, nonché l’imaging a basso vuoto della superficie di un filtro, MTS può assistere i clienti nell’identificare i contaminanti organici e inorganici rimossi.
Analisi SEM (Microscopio Elettronico a Scansione) e Raggi X
La tecnologia SEM consente a MTS di produrre immagini dal regno submicronico, utilizzando un ingrandimento massimo di x300.000. L’analisi di queste immagini, come la superficie di una membrana filtrante usata, può aiutarci a determinare la natura di ciò che viene rimosso dal prodotto dei nostri clienti.
Uno spettrometro a raggi X a dispersione di energia (EDX) permette a MTS di eseguire l’analisi elementare e l’identificazione dei contaminanti inorganici sulla superficie osservata. Questo dispositivo rileva e misura l’energia dei raggi X emessi da un campione.
Imaging a Basso Vuoto
L’imaging a basso vuoto rende possibile analizzare materiali organici, come batteri o cellule, senza distruggerli. (Questi campioni non possono essere osservati in condizioni di alto vuoto a causa dell’alto contenuto d’acqua e/o di superfici non conduttive.)