SEM & Röntgen-
Analyse
SEM & Röntgen-
Analyse
Verunreinigungsidentifikation durch Analyse mit Rasterelektronenmikroskop (SEM), Röntgenstrahlen und Niedrigvakuum-Bildgebungstechnologie
Meissner verwendet eine Vielzahl unterschiedlicher Instrumente, um bei der Analyse und Identifikation von Verunreinigungen zu helfen, die aus gefilterten Flüssigkeiten entfernt wurden. Durch SEM- und Röntgenanalyse sowie Niedrigvakuum-Bildgebung der Oberfläche eines Filters kann MTS Kunden dabei unterstützen, sowohl organische als auch anorganische Verunreinigungen zu identifizieren, die entfernt wurden.
SEM (Rasterelektronenmikroskop) und Röntgenanalyse
Die SEM-Technologie ermöglicht es MTS, Bilder aus dem Submikron-Bereich zu erzeugen, mit einer maximalen Vergrößerung von x300.000. Die Analyse dieser Bilder, wie z. B. der Oberfläche einer gebrauchten Filtermembran, kann uns helfen, die Beschaffenheit dessen zu bestimmen, was aus dem Produkt unserer Kunden entfernt wird.
Ein energiedispersives Röntgen-(EDX)-Spektrometer ermöglicht es MTS, eine Elementaranalyse und Identifikation von anorganischen Verunreinigungen auf der beobachteten Oberfläche durchzuführen. Dieses Gerät erkennt und misst die Energie der von einer Probe emittierten Röntgenstrahlen.
Niedrigvakuum-Bildgebung
Die Niedrigvakuum-Bildgebung ermöglicht die Analyse organischer Materialien, wie Bakterien oder Zellen, ohne sie zu zerstören. (Diese Proben können aufgrund ihres hohen Wassergehalts und/oder nicht leitfähiger Oberflächen nicht unter Hochvakuum-Bedingungen betrachtet werden.)