Meissner utilise une variété d’instruments différents pour aider à l’analyse et à l’identification des contaminants retirés des fluides filtrés. Grâce à l’analyse SEM et aux rayons X, ainsi qu’à l’imagerie sous faible vide de la surface d’un filtre, MTS peut aider les clients à identifier les contaminants organiques et inorganiques éliminés.

Analyse SEM (Microscope Électronique à Balayage) et rayons X

La technologie SEM permet à MTS de produire des images du domaine submicronique, avec un grossissement maximal de x300 000. L’analyse de ces images, comme la surface d’une membrane de filtre usagée, peut nous aider à déterminer la nature de ce qui est retiré du produit de nos clients.

Un spectromètre à rayons X à dispersion d’énergie (EDX) permet à MTS d’effectuer une analyse élémentaire et une identification des contaminants inorganiques sur la surface observée. Cet appareil détecte et mesure l’énergie des rayons X émis par un échantillon.

Imagerie sous faible vide

L’imagerie sous faible vide permet d’analyser des matériaux organiques, comme des bactéries ou des cellules, sans les détruire. (Ces spécimens ne peuvent pas être observés dans des conditions de vide élevé en raison de leur forte teneur en eau et/ou de surfaces non conductrices.)