Análisis SEM y Rayos X
Análisis SEM y Rayos X
Identificación de contaminantes mediante análisis con microscopio electrónico de barrido (SEM), rayos X y tecnología de imágenes de bajo vacío
Meissner emplea una variedad de instrumentos diferentes para ayudar en el análisis e identificación de contaminantes eliminados de fluidos filtrados. A través del análisis SEM y de rayos X, así como de imágenes de bajo vacío de la superficie de un filtro, MTS puede asistir a los clientes en la identificación de contaminantes orgánicos e inorgánicos eliminados.
Análisis SEM (Microscopio Electrónico de Barrido) y Rayos X
La tecnología SEM permite a MTS producir imágenes del ámbito submicrónico, empleando un aumento máximo de x300,000. El análisis de estas imágenes, como la superficie de una membrana de filtro usada, puede ayudarnos a determinar la naturaleza de lo que se está eliminando del producto de nuestros clientes.
Un espectrómetro de rayos X de dispersión de energía (EDX) permite a MTS realizar análisis elemental e identificación de contaminantes inorgánicos en la superficie observada. Este dispositivo detecta y mide la energía de los rayos X emitidos por una muestra.
Imágenes de Bajo Vacío
Las imágenes de bajo vacío hacen posible analizar materiales orgánicos, como bacterias o células, sin destruirlos. (Estas muestras no pueden visualizarse en condiciones de alto vacío debido al alto contenido de agua y/o superficies no conductoras.)