Analyse par MEB ou rayons X

Identification des contaminants par microscopie électronique à balayage (MEB) ou à rayons X et par imagerie sous vide partiel


Meissner utilise divers instruments permettant d’analyser et identifier les contaminants éliminés des fluides filtrés. En analysant la surface d’un filtre par MEB, par rayons X et par imagerie sous vide partiel, le MTS peut aider les clients à identifier les contaminants organiques et inorganiques éliminés.

Analyse par MEB (microscope électronique à balayage) et par rayons X

Grâce à un grossissement maximum de x300 000, la technologie MEB permet au MTS de produire des images à des résolutions inférieures au micron. L’analyse de ces images, comme la surface d’une membrane de filtre usagé, peut nous aider à déterminer la nature des particules éliminées des produits de nos clients.

Un spectromètre de rayons X à dispersion d’énergie (EDX) permet au MTS d’effectuer une analyse des éléments et d’identifier les contaminants inorganiques présents sur la surface observée. Cet appareil détecte et mesure l’énergie des rayons X émis par un échantillon.

Imagerie sous vide partiel

L’imagerie sous vide partiel permet d’analyser des matières organiques, telles que des bactéries ou des cellules, sans les détruire. (Ces spécimens ne peuvent pas être visualisés sous vide poussé en raison de leur teneur élevée en eau et/ou de la présence de surfaces non conductrices).

SEM & X-Ray Analysis