通过使用扫描电子显微镜(SEM)、X光和低真空成像技术分析结果鉴定污染物
Meissner采用各种仪器分析和识别从过滤流体中去除的污染物。通过SEM和X光分析，以及过滤器表面的低真空成像， MTS可以帮助客户鉴定去除的有机和无机污染物。
扫描电子显微镜(SEM)与X光分析
SEM技术允许MTS生成亚微米级图像，放大倍率高达30万。分析这些图像（例如用过的滤膜表面）有助于对客户产品中去除的物质进行性质测定。
能量色散X射线(EDX)光谱仪允许MTS对被观察表面的无机污染物进行元素分析和鉴定。该设备可检测和测量样本发出的X射线能量。
低真空成像
低真空成像技术可用于分析细菌或细胞等有机材料且不会产生任何破坏作用。（由于含水量高和/或表面不导电，在高真空条件下无法观察到这些试样。）
